خانه
اخبار
ترجمه
پروژه
محل اجتماع
کمک
اعضاء
وارد شدن
ثبت کردن
. .
•مشخصات
kazandibi00
▪▪همه ترجمه ها
•ترجمه های درخواست شده
•
ترجمه های مطلوب
•لیست طرحها
•صندوق
▪مراوده زبانی مجانی
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
▪▪فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
همه ترجمه ها
جستجو
همه ترجمه ها - kazandibi00
جستجو
زبان مبداء
زبان مقصد
2 درحدود 2 - 1 نتایج
1
411
زبان مبداء
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
ترجمه های کامل
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1